Microelectronic manufacturing yield, reliability and failure analysis III - 1-2 October 1997, Austin, Texas
- Författare
- Hans-Dieter Hartmann Sharad Prasad Ali Keshavarzi
- (Ali Keshavarzi, Sharad Prasad, Hans-Dieter Hartmann, chairs/editors.)
- Genre
- Konferenspublikation, Konferenser, Ej skönlitteratur
- Språk
- Engelska
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| Cop. 1997 | USA | 198 sidor. |